EDX-LE能量色散X射線分析—般指X射線熒光光譜分析，運(yùn)用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激起待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之發(fā)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研討的辦法。按激起、色散和探測(cè)辦法的不同，分為X射線光譜法(波長(zhǎng)色散)和X射線能譜法(能量色散)。
EDX-LE能量色散X射線分析根據(jù)色散方法不同，X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長(zhǎng)色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。
EDX-LE能量色散X射線分析是確定物質(zhì)中微量元素的品種和含量的一種辦法，又稱(chēng)X射線次級(jí)發(fā)射光譜分析，是運(yùn)用原級(jí)X射線光子或其它微觀粒子激起待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之發(fā)生次級(jí)的特征X射線(X光熒光)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研討。
用X射線照耀試樣時(shí)，試樣可以被激起出各種波長(zhǎng)的熒光X射線，需求把混合的X射線按波長(zhǎng)(或能量）分隔，分別丈量不同波長(zhǎng)(或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此運(yùn)用的儀器叫X射線熒光光譜儀。
測(cè)驗(yàn)對(duì)樣品有特別的要求:一般情況下只能對(duì)固體樣品進(jìn)行分析，假如要測(cè)驗(yàn)液體樣，也要通過(guò)處理轉(zhuǎn)化成固體后方可測(cè)驗(yàn)。
常見(jiàn)的樣品制備辦法：在測(cè)驗(yàn)時(shí)，為了盡量減少光線散射，需求對(duì)原始試樣進(jìn)行切片或壓片處理以獲得外表平坦的測(cè)驗(yàn)樣，同時(shí)測(cè)驗(yàn)樣的長(zhǎng)寬也要小于45mm。此外，關(guān)于材料的厚度和質(zhì)量也有約束:如塊體材料，要求輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm;而關(guān)于粉末樣品，為了獲得壓片測(cè)驗(yàn)樣，一般需求至少5g干燥的粒度在200目以下的均勻粉末。
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